离子引出质量分析仪

仪器编号：202327540S

运行状态：正常

功率：5000 W

能源单价：2.83 元 / 小时

测试单价：500.00 元 / 小时

已测试数：15 次

联系人电话：18956040752

金刚石中的氮空位缺陷及碳化硅中的硅空位缺陷由于其优异的量子性质，在磁场探测、生命医学检测、量子计算等领域具有重要的应用前景。金刚石中的氮空位缺陷及碳化硅中的硅空位缺陷的主要制备方法是通过高能离子对样品进行注入，从而在样品中掺入所需要的目标离子如氮原子和碳原子，同时在样品中产生大量空位，通过高温退火形成氮空位缺陷或硅空位缺陷。氮空位缺陷及硅空位缺陷的探测灵敏度与样品体内的纯净度密切相关，因此注入时需要筛选出特定的离子同时避免引入其它的杂质原子，这个过程需要离子引出质量分析仪来实现，通过质谱对不同荷质比的粒子进行区分，从而得到纯净的离子束来对样品进行注入。