高分辨率X光衍射仪

仪器编号：2020223409

运行状态：正常

功率：3000 W

能源单价：1.70 元 / 小时

测试单价：1000.00 元 / 小时

已测试数：581 次

联系人电话：15021327674

用于即时反馈研制的外延薄膜材料，方向可粗分到五个方向：一，分析砷基/磷基半导体量子点结构中，晶体材料的完美程度、薄膜厚度、化合物组分、缺陷分析等；二，分析同质外延氧化物缓冲层（例如氧化铝）的结晶一致性和缺陷分布情形；三，利用低温X射线反射率，来研究超导金属外延薄膜和氧化物衬底界面缺陷程度和界面粗糙度等；四，利用微区分析模块，研究微米结构的应力分布；五，表征外延新颖材料的相关晶体参数。