荧光综合特性测量系统

仪器编号：S00084

运行状态：正常

功率：1000 W

测试单价：200.00 元 / 小时

已测试数：2 次

联系人电话：0551-63600749

联系人邮箱：zcdong@ustc.edu.cn

荧光综合特性测量系统不仅可以用来测量分子体系的稳态发射光谱，还可以利用TCSPC原理测量发光体系的瞬态光谱，即荧光或磷光寿命。设备主要包括405 nm皮秒激光器，PMT，光谱仪，光子计数卡以及共聚焦激发-收集系统等。