半导体特性分析仪

仪器编号：202651024S

运行状态：正常

功率：350 W

测试单价：/ 元 / 小时

已测试数：0 次

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4200A-SCS 半导体参数分析仪集成高精度源测量单元（SMU）、电容测量单元、脉冲发生模块，可完成半导体器件直流 I-V、交流 C-V、脉冲瞬态特性测试；支持漏电流、击穿电压、迁移率、阈值电压、器件阻抗、光电响应等参数表征；配套自动化测试脚本，可批量完成芯片、探测器、传感器的电学性能扫描测试，适配医学成像探测器件、微电子器件、光电传感硬件研发测试