首页 仪器列表 IR-XPS联用原位表征装置

IR-XPS联用原位表征装置

仪器编号:202544463S

运行状态:正常

功率:8000 W

测试单价:/ 元 / 小时

已测试数:0 次

联系人电话:18297987584

联系人邮箱:zhuxiaodi@ustc.edu.cn

具备中、远红外区镜面反射吸收和漫反射两种红外光谱测试模式的IR-XPS联用原位表征功能,可应用于单晶、薄膜及粉末样品的气固界面吸附态物种的红外光谱原位探测和不暴露大气的材料表面元素组成、价态等联用原位表征。